Đề tài Nghiên cứu hình thái cấu trúc và đặc tính điện hóa của polyaniline tổng hợp bằng con đường điện hóa

CHƯƠNG III - CÁC PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CỨU 3.1. Phương pháp quét thế tuần hoàn (CV) [26,27,28] Phương pháp quét thế tuần hoàn Von-Ampe (Cyclic Voltametry)được dùng để xác định hệ số khuếch tán D và xem xét sự biến thiên thuận nghịch (khả năng có thể phóng và nạp) của vật liệu nghiên cứu, điện thế ở đây biến thiên tuyến tính theo thời gian. Hình 3.1: Đồ thị quét thế vòng cyclicvoltametry Biến thiên điện thế theo thời gian có thể xác định theo các công thức sau: Khi 0 < < Khi > Trong đó: v - Tốc độ quét thế 0,000 (V/s) – 1000 (V/s) - Thời điểm đổi chiều quét thế (s) - Thời gian (s) - Điện thế ban đầu (V) Với hệ thống thuận nghịch: Khi quét CV cho bề mặt điện cực nghiên cứu, đồ thị phụ thuộc của điện thế và dòng điện có dạng: Hình 3.2: Quan hệ giữa điện thế và dòng điện trong quét thế tuần vòng Dòng cực đại: ip, R = -2,69.105.n3/2.Do1/2.Co.v1/2 Trong đó : n – Số điện tử tương đối Do – Hệ số khuyếch tán cm2/s Co – Nồng độ ban đầu của chất O, mol ở 2980K (không phụ thuộc vào tốc độ quét thế) và Với hệ thống bất thuận nghịch Dòng điện cực đại: Với: A – Diện tích điện cực, cm2 C0 – Nồng độ chất oxi hóa trong dung dịch, mol/dm3[1]. 3.2. Phương pháp đo tổng trở (EIS) [26] 3.2.1. Nguyên lý của phổ tổng trở điện hóa Khi ta cho một dao động biên độ nhỏ xoay chiều hình sin U0, tần số góc đi qua một hệ điều hòa (hình 3.3), trong mạch sẽ xuất hiện một dòng điện đáp ứng hình sin có biên độ I0 cùng tần số góc nhưng lệch pha một góc so với điện thế đưa vào. Bình điện hóa Hình 3.3: Sơ đồ khối mô phỏng nguyên lý đo tổng trở = Uo sint = Io sin (t + ) Theo định luật Ohm có thể định nghĩa tổng trở Z như sau: Z = / = f () Tính chất của Z () là: Z () là một vectơ có modun và góc lệch pha Z () là một hàm phức: Z () = Zre + jZim Ta có thể biểu diễn hình học của Z () trên mặt phẳng phức như sau : Ta có: Phần thực, Zr Phần ảo, Z1 Hình 3.4: Biểu diễn hình học các phần tử phức Khảo sát đặc tính tần số Z = f () cho phép xác định các đại lượng, Zr, Zi và góc lệch pha = arctg (Zi/Zr). Tổng trở Z của bình điện hóa bao gồm các thành phần như: tổng trở của quá trình Faraday Zf, điện dung của lớp kép coi như một tụ điện Cd và điện trở - là điện trở dung dịch giữa điện cực nghiên cứu và điện cực so sánh. Kỹ thuật xử lý toán học cho ta tính được các giá trị Cd, , Zf… và cho đến các thông số động học cuối cùng của hệ điện hóa (io, ko, D…). Kết quả nhận được thường được biểu diễn dưới dạng đồ thị thường gọi là phổ (Nyquits, Bode…). 3.2.2. Mạch tương đương trong phổ tổng trở Zf Cd Sơ đồ mạch tương đương thể hiện hành vi của bình điện hóa được thể hiện trên hình 3.5 Hình 3.5: Mạch tương đương ứng với hệ điện hóa bị khống chế bởi quá trình chuyển điện tích : Điện trở dung dịch Zf: Tổng trở của quá trình Faraday Cd: Điện dung của lớp kép Trong đồ thị, quan hệ – Zi theo Zr sẽ nhận được cung bán nguyệt với bán kính bằng (Rp-Rdd)/2. Có thể xác định Rp, Rdd (hay ) tại điểm cắt của cung này với trục Zr. Điện dung Cd có thể xác định từ Rp và giá trị tần số fmax của cực đại tổng trở ảo – Zi. 3.2.3. Tổng trở khuếch tán Warburg Tổng trở khuếch tán hay còn gọi là tổng trở Warburg, kí hiệu là ZW được tính bởi: ZW = (1-j) Trong đó: là hằng số Warburg Mạch tương đương của tổng trở Warburg gồm một điện trở và một tụ điện mắc nối tiếp như hình 3.6: RW CW Hình 3.6 : Mạch tương đương tổng trở khuếch tán Warburg 3.2.4. Tổng trở Randles Trong trường hợp phản ứng điện cực bị khống chế bởi cả giai đoạn chuyển điện tích và khuếch tán ta có tổng trở Ersler – Randles Trong đó: và Đặt Cuối cùng ta có: ZR = Rct + (1-j) -1/2 Clk W Rp Rdd Sơ đồ tổng quát của trở Randles được mô tả trên hình 3.7: Hình 3.7: Sơ đồ tương đương của bình điện phân Điện trở chuyển điện tích Rct thường được xác định bằng cách ngoại suy tổng trở ở tần số thấp về Zi = 0 3.2.5. Biểu diễn tổng trở trên mặt phẳng phức Nếu hệ thống bình điện phân thoả mãn sơ đồ Randles thì tổng trở bình điện phân sẽ là: Z = Zr - j Zi Tách phần thực và phần ảo phương trình tổng trở bình điện phân trên, ta có: Khi tần số -> 0 thì: Zr = Rdd + Rct + và Zi = - 2. 2 Cd Phổ nhận được tuỳ theo cách biểu diễn số liệu có hai dạng với tên gọi là phổ Nyquits hoặc phổ Bode. Đường biểu diễn Zr theo Zi (Phổ Ny quits) sẽ là đường thẳng với độ dốc bằng 1 và ngoại suy sẽ cắt trục thực Zr tại (Rdd + Rct – 22Cdd). Đường thẳng này tương ứng với khống chế khuếch tán và tổng trở Warburg có độ lệch pha là /4. Rdd Rdd + Rct/2 (Rdd + Rct) Zr, Ôm Rdd + Rct - 2d2Cdd Khuếch tán Động học max = 1/(RctCd) - Z1, Ôm ω→ 0 Hình 3.8: Tổng trở trên mặt phẳng phức Khi : ở tần số cao phản ứng chỉ bị khống chế động học và Rct >> ZW Cuối cùng ta có: (Zr – Rdd – Rct/2)2 + (Zi)2 = (Rct/2)2 Đó chính là biểu thức của vòng tròn bán kính Rct/2 cắt trục Zr tại Rdd khi và tại Rdd + Rct khi (hình 3.8). Khi có sự hấp thụ còn thấy nửa vòng tròn ở dưới trục Zr khi và khi có thụ động còn thấy giá trị điện trở âm.[1] 3.3. Phương pháp kính hiển vi điện tử quét (SEM) Kính hiển vi điện tử quét được sử dụng để khảo sát hình thái bề mặt và cấu trúc lớp mỏng dưới bề mặt trong điều kiện chân không hay khảo sát bề mặt điện cực hoặc bề mặt bị ăn mòn, cũng như để phân tích thành phần hoá học của bề mặt. Sơ đồ cấu tạo của kính hiển vi điên tử quét được mô tả ở hình 3.9: Hình 3.9: Cấu tạo của kính hiển vi điện tử quét SEM 1- Nguồn phát điện tử đơn sắc; 2- Thấu kính điện tử; 3-Mẫu nghiên cứu; 4-Detector điện tử thứ cấp; 5- Detector điện tử xuyên qua; 6- Khuếch đại tín hiệu; 7- Bộ lọc tia Tia điện tử phát ra ở nguồn 1 được hệ thấu kính 2 làm hội tụ rồi quét lên mẫu 3 nhờ hệ lái tia 8. Một hay nhiều detector 4 thu nhận điện tử thứ cấp phản xạ từ mẫu 3, được đồng bộ hoá với tín hiệu thu nhận từ detector 5 (tia xuyên qua) sau khi khuếch đại ở 6 được chiếu lên màn huỳnh quang 7 và cho hình ảnh cấu trúc của mẫu. Nếu mẫu đủ mỏng chùm tia sẽ xuyên qua mẫu đó là trường hợp kính hiển vi điện tử xuyên qua TEM kỹ thuật TEM được dùng trong kỹ thuật để thăm dò khuyết tật trong mạng tinh thể và khảo sát sự phân bố của các pha kim loại. Hiện nay TEM được cải tiến để thu nhận được hình ảnh trên một diện rộng và giảm thiểu phá huỷ mẫu bởi các chùm tới cường độ cao. Nếu mẫu dày hơn thì sau khi tương tác với bề mặt mẫu các sản phẩm tương tác (các điện tử thứ cấp) sẽ đi theo một hướng khác ra khỏi bề mặt mẫu. Các điện tử thứ cấp này được detector 4 thu nhận, phân tích và chuyển đổi thành hình ảnh SEM. Đối với mẫu không phải là kim loại muốn sử dụng kỹ thuật phản xạ này phải phủ trước cho mẫu một lớp màng mỏng kim loại cỡ 10nm để tránh hiện tượng điện tích tập trung trên bề mặt mẫu. Khi các chùm tia tới tương tác với bề mặt mẫu còn có thể sinh ra nhiều sản phẩm khác ngoài các điện tử thứ cấp, điện tử xuyên qua nói trên. Một trong các sản phẩm khác ấy là các điện tử phản xạ ngược, các điện tử này tạo nên các hình ảnh gồm các vùng trắng ứng với các nguyên tố nặng cho các điện tử phản xạ ngược mạnh và các vùng tối ứng với các nguyên tố nhẹ cho các điện tử phản xạ yếu. Phát hiện, thu nhận, phân tích các phản xạ ngược này chính là cơ sở của phương pháp phân tích định tính các nguyên tố có mặt trong mẫu, đó là chức năng thư hai chức năng phân tích của kỹ thuật hiển vi điện tử. Hiện nay kính hiển vi điện tử quét tiếp tục được cải tiến, khai thác, bổ sung để chúng có nhiều chức năng hơn nữa như chức năng phân tích hoá học, phân tích định lượng. Độ phân giải của kính hiển vi điện tử quét trùng với hầu hết kích thước các nguyên tử (từ 0,2nm đến 10µm). Mặt khác trong vùng hiển vi điện tử và vùng hiển vi quang học đều có thể làm việc được thì hình ảnh của của SEM có độ sâu độ, sắc nét hơn hẳn ảnh của hiển vi quang học. Đó là lý do tại sao người ta sử dụng phương pháp kính hiển vi điện tử quét để nghiên cứu bề mặt.