Kết luận
Phương pháp chụp CT thế hệ thứ tư khảo sát tháp công
nghiệp kích thước lớn đã được nghiên cứu và xây dựng
thành công. Mẫu thiết bị CT thế hệ thứ tư đã được chế tạo
với cấu hình đo đạc 1 nguồn phóng xạ và 8 đầu dò nhấp
nháy NaI(Tl) bố trí trên một khung tròn đồng tâm với khung
xoay cơ khí. Phần mềm tái dựng ảnh cắt lớp với các thuật
toán thông dụng đã được lập trình thành công dựa trên hình
học dựng ảnh thế hệ thứ tư. Các kết quả thử nghiệm cho
thấy hình ảnh tái dựng từ bộ số liệu hình chiếu thế hệ thứ
tư đúng với hình dạng và kích thước của mẫu. Hình ảnh có
độ phân giải mật độ tốt, độ phân giải không gian đủ để khảo
sát các đối tượng trong công nghiệp. Kích thước khung cơ
khí cho phép khảo sát được các tháp lọc hóa dầu có đường
kính lên đến 2 m với nhiều thành phần vật liệu như thép, bê
tông Giải pháp xoay đầu dò trung gian để tăng số tia thật
sự hữu ích với điều kiện số đầu dò hạn chế, từ đó thiết bị cần
ít máy đo hạt nhân hơn, giá thành thiết bị từ đó cũng giảm
đáng kể. Người sử dụng có thể chủ động thiết lập thay đổi số
tia chiếu dựa vào điều kiện thực tế trên công trường, từ đó
có thể tiết kiệm được thời gian đo đạc hay tăng cường chất
lượng ảnh trong một số trường hợp.
6 trang |
Chia sẻ: hachi492 | Ngày: 13/01/2022 | Lượt xem: 272 | Lượt tải: 0
Bạn đang xem nội dung tài liệu Nghiên cứu phương pháp chụp ảnh cắt lớp điện toán thế hệ thứ tư khảo sát tháp công nghiệp kích thước lớn, để tải tài liệu về máy bạn click vào nút DOWNLOAD ở trên
2361(11) 11.2019
Khoa học Kỹ thuật và Công nghệ
Mở đầu
Chụp cắt lớp điện toán CT là một công cụ chẩn đoán
hiệu quả trong y tế từ nhiều năm qua. Với các tính năng
ưu việt, CT đã được ứng dụng rất rộng rãi trong nhiều lĩnh
vực khác. Từ thời điểm được phát minh vào những năm
cuối thập niên 60 của thế kỷ trước, cho đến nay đã có 7 thế
hệ CT thương mại được sử dụng trong y tế, công nghiệp,
nghiên cứu khoa học và được phân ra thành 3 nhóm theo độ
phân giải bao gồm: nanoCT, microCT và macroCT. Thiết bị
nanoCT hiện nay có thể đạt đến độ phân giải dưới 100 nm
với kích thước mẫu cỡ vài mm. Công nghệ microCT có độ
phân giải không gian từ vài µm đến 100 µm với kích thước
mẫu không quá 100 mm. MacroCT bao gồm cả CT y tế với
độ phân giải không gian từ 0,1 mm đến vài mm. Một số thiết
bị CT công nghiệp sử dụng máy gia tốc tuyến tính có thể
chụp được các mẫu van cỡ lớn với khối lượng lên tới 7 tấn
[1], khoảng cách từ máy phát đến đầu dò lên đến vài mét [2].
Đa số thiết bị CT nêu trên sử dụng máy phát tia X và được
vận hành trong nhà. Một số rất ít thiết bị CT công nghiệp
có thể di chuyển để ứng dụng trên các đối tượng ngoài công
trường. Khả năng của các thiết bị dạng này tuy hạn chế, hình
ảnh đạt được có độ phân giải không gian không cao, thời
gian chụp lâu nhưng vẫn có nhiều tiềm năng ứng dụng để
giải quyết các bài toán trong quá trình vận hành các thiết bị
công nghiệp, đặc biệt trong công nghiệp lọc hóa dầu.
Tháp công nghiệp luôn có hình trụ tròn, cao, thành tháp
bằng thép dày, xung quanh tháp có nhiều kết cấu như sàn
công tác, các ống dẫn, van Do đó thiết bị CT khảo sát tháp
cần có cấu trúc cơ khí tinh gọn, tránh vướng víu các cấu
kiện bên ngoài tháp khi vận hành. Hình 1B mô tả cấu hình
CT thế hệ thứ tư khảo sát tháp công nghiệp được đề xuất
trong chương trình hợp tác kỹ thuật về chụp cắt lớp điện
toán công nghiệp của Cơ quan Năng lượng nguyên tử quốc
tế (IAEA) [3]. Cấu hình này cần rất nhiều đầu dò phóng xạ
bố trí cố định trên một đường tròn quanh tháp. Một nguồn
phóng xạ hoạt độ cao, không được che chắn sẽ chạy quanh
một đường tròn có đường kính nhỏ hơn đường tròn đầu dò.
Cấu hình này có ưu điểm về kích thước và nguyên lý vận
hành. Kích thước cơ khí của cấu hình nhỏ hơn rất nhiều so
với cấu hình thế hệ thứ ba (hình 1A) với cùng kích thước
mẫu. Tuy nhiên nhược điểm của cấu hình là hình ảnh sẽ có
độ phân giải thấp, liều bức xạ khi vận hành rất cao do nguồn
phóng xạ hoàn toàn không được che chắn.
Nghiên cứu phương pháp chụp ảnh cắt lớp điện toán
thế hệ thứ tư khảo sát tháp công nghiệp kích thước lớn
Đặng Nguyễn Thế Duy*, Nguyễn Thanh Châu,
Trần Thanh Minh, Nguyễn Văn Chuẩn, Nguyễn Ngọc Nhật Anh
Trung tâm Ứng dụng kỹ thuật hạt nhân trong công nghiệp,
Viện Năng lượng nguyên tử Việt Nam
Ngày nhận bài 1/7/2019; ngày chuyển phản biện 4/7/2019; ngày nhận phản biện 5/8/2019; ngày chấp nhận đăng 19/8/2019
Tóm tắt:
Ngay sau khi thế hệ thứ nhất được phát minh vào cuối thập niên 60 của thế kỷ XX, công nghệ chụp cắt lớp điện toán
(CT) đã phát triển một cách nhanh chóng chỉ trong khoảng thời gian hơn 10 năm sau đó. Thế hệ thứ 3 thương mại
xuất hiện vào năm 1975, giúp giải quyết các vấn đề về thời gian đo đạc của hai thế hệ trước đó. Năm 1976, thế hệ thứ
tư ra đời để giải quyết tiếp các vấn đề về kích thước mẫu, ảnh tròn giả và độ ổn định chung của thiết bị. Ngày nay,
bên cạnh CT trong y tế, phạm vi ứng dụng của CT ngày càng được mở rộng, với nhu cầu thực tiễn gia tăng nhanh
chóng. CT được xem như là một công cụ kiểm tra không phá hủy hiện đại, áp dụng trên các đối tượng có kích thước
từ vài mm cho đến vài mét trong rất nhiều lĩnh vực kinh tế - xã hội, trong đó có việc kiểm tra khảo sát thiết bị, tháp
lọc hóa dầu đang vận hành. Trung tâm Ứng dụng kỹ thuật hạt nhân trong công nghiệp (CANTI) là một trong số ít
đơn vị tại Việt Nam đã và đang nghiên cứu, thiết kế và chế tạo thiết bị CT công nghiệp. Bài báo trình bày về kết quả
nghiên cứu, chế tạo phần cứng cơ khí thiết bị CT thế hệ thứ tư khảo sát tháp công nghiệp kích thước lớn, các thuật
toán tái tạo ảnh và quan trọng nhất là hình học dựng ảnh thế hệ thứ tư. Một số kết quả thử nghiệm trên mẫu thử
trong phòng thí nghiệm cũng được trình bày ở bài báo này.
Từ khóa: ART, chụp cắt lớp điện toán, CT, CT thế hệ thứ tư.
Chỉ số phân loại: 2.3
*Tác giả liên hệ: Email: theduy@canti.vn
2461(11) 11.2019
Khoa học Kỹ thuật và Công nghệ
Hình 1. Cấu hình CT thế hệ thứ ba (A) và cấu hình thế hệ thứ tư
khảo sát tháp công nghiệp (B).
Tại Việt Nam, nhu cầu sử dụng các kỹ thuật tiên tiến và
hiệu quả để kiểm tra tình trạng hoạt động của tháp lọc hóa
dầu trong khi vận hành ngày càng tăng cao. Một số bài toán
cụ thể như kiểm tra tình trạng gạch/bê tông chịu lửa trong hệ
thống tái sinh xúc tác, kiểm tra tình trạng vùng vật liệu đệm,
tầng phá sương trong tháp chưng cất chỉ có thể giải quyết
bằng kỹ thuật bức xạ như soi gamma hoặc chụp cắt lớp điện
toán. Đứng trước nhu cầu đó, nhóm nghiên cứu về hình ảnh
hạt nhân tại CANTI đã nghiên cứu và phát triển thành công
phương pháp chụp cắt lớp khảo sát tháp công nghiệp có kích
thước đến 2 m. Phương pháp chụp dựa trên cấu hình cơ khí
thế hệ thứ tư nhưng với số lượng đầu dò hạn chế (8 đầu dò
NaI(Tl) có kích thước tinh thể 50x50 mm). Thành công của
nghiên cứu là tiền để cho CANTI hoàn thiện thiết bị nhằm
mở rộng phạm vi ứng dụng, góp phần khai thác và vận hành
hiệu quả, an toàn các nhà máy công nghiệp.
Cơ sở lý thuyết và phương pháp thực hiện
Nguyên lý chụp cắt lớp điện toán
Phương pháp chụp ảnh cắt lớp CT xác định được phân
bố mật độ vật chất trong mẫu vật dựa trên tính toán từ tập
số liệu hình chiếu (số liệu các phép đo phóng xạ). Đặc trưng
của phương pháp là ở cách bố trí thu thập dữ liệu trên lát cắt
vật thể. Một số lượng lớn các phép đo được ghi nhận trên
một lát cắt, trong đó mỗi phép đo liên quan đến vị trí của
nguồn kết hợp với vị trí của đầu dò.
Xét trường hợp một chùm bức xạ có cường độ ban đầu I
0
đi qua mẫu vật như biểu diễn ở hình 2. Cường độ chùm bức
xạ I sau khi đi qua mẫu vật như sau:
4
Phương pháp chụp ảnh cắt lớp CT xác định được phân bố mật độ vật chất trong
mẫu vật dựa trên tính toán từ tập số liệu hình chiếu (số liệu các phép đo phóng xạ).
Đặc trưng của phương pháp là ở cách bố trí thu thập dữ liệu trên lát cắt vật thể. Một số
lượng lớn các phép đo đượ ghi nhận trên một lát cắt, trong đó mỗi phép đo liên quan
đến vị trí của nguồn kết hợp với vị trí của đầu dò.
Xét trường hợp một chùm bức xạ có cường độ ban đầu I0 đi qua mẫu vật như
biểu diễn ở ình 2. Cường độ chùm bức xạ I sau khi đi qua mẫu vật như sau:
* ∫ ( ) + (1)
Giá trị chiếu g(s,) là tích phân đường (line integral) qua mẫu vật và được xác
định theo phương trình (2). Tích phân này được gọi là tổng tia (ray sum):
( ) *∫ ( )
+ (
) (2)
Ta có thể thấy, mặt phẳng uOs là mặt phẳng xOy xoay một góc xoay . Trong
không gian 2 chiều, mối liên hệ giữa mặt phẳng gốc và mặt phẳng đã xoay một góc
như sau:
(3)
Hình 2. Phép lấy hình chiếu vật thể tại góc θ sử dụng chùm tia song song.
Thế (3) vào (2), ta được:
( ) ∫ ∫ ( )
( ) (4)
( ) ∫ (
) (5)
Kết hợp toàn bộ các tập hình chiếu trên tất cả các góc khác nhau sẽ thu được một
tập số liệu 2 chiều ( ), hay còn gọi là sinogram (do ảnh 2 chiều của bộ số liệu có
những vệt hình sóng sin). Sự biến đổi tập hợp ( ) sang sinogram ( ) được gọi
là biến đổi adon. Biến đổi adon ở một góc xác định được trình bày như sau:
( ) * ( + ∫ (
) (6)
(1)
Giá trị chiếu g(s,θ) là tích phân đường (line integral) qua
mẫu vật và được xác định theo phương trình (2). Tích phân
này được gọi là tổng tia (ray sum):
4
Phương pháp chụp ảnh ắt lớp CT xác địn được phân bố mật độ vật chất trong
mẫu vật dựa trên tính toán từ tập số ệu hình chiếu (số liệu các phép đo phóng xạ).
Đặc trư g của hương pháp là ở cách bố trí thu thập dữ liệu trên lát cắt vật thể. Một số
lượng lớn các phép đo được ghi nhận trên một lát cắt, trong đó mỗi phép đo liên quan
đến vị trí của nguồn kết hợp với vị trí của đầu dò.
Xét trường hợp một chùm bức xạ có cường ộ ban đầu I0 đi qua mẫu vật như
biểu diễn ở hình 2. Cường độ chùm bức xạ I sau khi đi qua mẫu vật như sau:
* ∫ ( ) + (1)
Giá trị chiếu g(s,) là tích phân đường (line integral) qu mẫu vật và được xác
định theo phương trình (2). Tích phân này được gọi là tổng tia (ray sum):
( ) *∫ ( )
+ (
) (2)
Ta có thể thấy, mặt phẳng uOs là mặt phẳng xOy xoay một góc xoay . Trong
không gian 2 chiều, mối liên hệ giữa mặt phẳng gốc và mặt phẳng đã xoay một góc
như sau:
(3)
Hình 2. Phép lấy hình chiếu vật thể tại góc θ sử dụng chùm tia song song.
Thế (3) vào (2), ta được:
( ) ∫ ∫ ( )
( ) (4)
( ) ∫ (
) (5)
Kết hợp toàn bộ các tập hình chiếu trê tất cả các góc khác nhau sẽ thu được một
tập số liệu 2 chiều ( ), hay còn gọi là sinogram (do ảnh 2 chiều của bộ số liệu có
những vệt hình sóng sin). Sự biến đổi tập hợp ( ) sang sinogram ( ) được gọi
là biến đổi adon. Biến đổi adon ở một góc xác định được trình bày như sau:
( ) * ( + ∫ (
) (6)
(2)
A research into the fourth
generation computed
tomography method
for investigation of large-sized
industrial towers
Nguyen The Duy Dang*, Thanh Chau Nguyen,
Thanh Minh Tran, Van Chuan Nguyen,
Ngoc Nhat Anh Nguyen
Centre for Applications of Nuclear Technique in Industry,
Vietnam Atomic Energy Insitute
Received 1 July 2019; accepted 19 August 2019
Abstract:
Right after the invention of first generation scanner in the
late 1960s of the 20th century, the computed tomography
(CT) technology had developed rapidly within 10 years
later. The third generation scanner was introduced into
the market in 1975 to solve the problem of measurement
time of previous generations. In 1976, the first scanner of
the fourth generation was available to solve the problem
of object size, ring artifacts as well as the general stability
of the third generation. Nowadays along with medical
imaging, CT has been widely used in many fields with
an increasing demand. CT is considered as the modern
non-destructive testing tool that can be applied on object
sizes ranging from millimeters to meters in many socio-
economic fields, including the inspection of currently
running equipment and petrochemical towers. In
Vietnam, Center for Applications of Nuclear Technique
in Industry (CANTI) is one of very few organizations that
has carried out the research, design and construction of
industrial CT scanners. This paper presents the results
on the research and manufacture of the hardware of the
fourth generation CT scanner for inspecting large-sized
industrial towers, the image reconstruction algorithms,
and the most important, the geometric matrix for image
recontruction. Test results on the laboratorial specimen
is also presented in this paper.
Keywords: ART, computed tomography, CT, fourth
generation CT.
Classification number: 2.3
2561(11) 11.2019
Khoa học Kỹ thuật và Công nghệ
Hình 2. Phép lấy hình chiếu vật thể tại góc θ sử dụng chùm tia
song song.
Ta có thể thấy, mặt phẳng uOs là mặt phẳng xOy xoay
một góc xoay θ. Trong không gian 2 chiều, mối liên hệ giữa
mặt phẳng gốc và mặt phẳng đã xoay một góc θ như sau:
4
Phương pháp chụp ảnh cắt lớp CT xác định được phân bố mật độ vật chất trong
mẫu vật dựa trên tính toán từ tập số liệu hình chiếu (số liệu các phép đo phóng xạ).
Đặc trưng của phương pháp là ở cách bố trí thu thập dữ liệu trên lát cắt vật thể. Một số
lượng lớn các phép đo được ghi nhận trên một lát cắt, trong đó mỗi phép đo liên quan
đến vị trí của nguồn kết hợp với vị trí của đầu dò.
Xét trường hợp một chùm bức xạ có cường độ ban đầu I0 đi qua mẫu vật như
biểu diễn ở hình 2. Cường độ chùm bức xạ I sau khi đi qua mẫu vật như sau:
* ∫ ( ) + (1)
Giá trị chiếu g(s,) là tích phân đường (line integral) qua mẫu vật và được xác
định theo phương trình (2). Tích phân này được gọi là tổng tia (ray sum):
( ) *∫ ( )
+ (
) (2)
Ta có thể thấy, mặt phẳng uOs là mặt phẳng xOy xoay một góc xoay . Trong
không gian 2 chiều, mối liên hệ giữa mặt phẳng gốc và mặt phẳng đã xoay một góc
như sau:
(3)
Hình 2. Phép lấy hình chiếu vật thể tại góc θ sử dụng chùm tia song song.
Thế (3) vào (2), ta được:
( ) ∫ ∫ ( )
( ) (4)
( ) ∫ (
) (5)
Kết hợp toàn bộ các tập hình chiếu trên tất cả các góc khác nhau sẽ thu được một
tập số liệu 2 chiều ( ), hay còn gọi là sinogram (do ảnh 2 chiều của bộ số liệu có
những vệt hình sóng sin). Sự biến đổi tập hợp ( ) sang sinogram ( ) được gọi
là biến đổi adon. Biến đổi adon ở một góc xác định được trình bày như sau:
( ) * ( + ∫ (
) (6)
(3)
Thế (3) vào (2), ta được:
4
Phương pháp chụp ảnh cắt lớp CT xác định được phân bố mật độ vật chất trong
mẫu vật dựa trên tính toán từ tập số liệu hình chiếu (số liệu các phép đo phóng xạ).
Đặc trưng của phương pháp là ở cách bố trí thu thập dữ liệu trên lát cắt vật thể. Một số
lượng lớn các phép đo được ghi nhận trên một lát cắt, trong đó mỗi phép đo liên quan
đến vị trí của nguồn kết hợp với vị trí của đầu dò.
Xét trường hợp một chùm bức xạ có cường độ ban đầu I0 đi qua mẫu vật như
biểu diễn ở hình 2. Cường độ chùm bức xạ I sau khi đi qua mẫu vật như sau:
* ∫ ( ) + (1)
Giá trị chiếu g(s,) là tích phân đường (line integral) qua mẫu vật và được xác
định theo phương trình (2). Tích phân này được gọi là tổng tia (ray sum):
( ) *∫ ( )
+ (
) (2)
Ta có thể thấy, mặt phẳng uOs là mặt phẳng xOy xoay một góc xoay . Trong
không gian 2 chiều, mối liên hệ giữa mặt phẳng gốc và mặt phẳng đã xoay một góc
như sau:
(3)
Hình 2. Phép lấy hình chiếu vật thể tại góc θ sử dụng chùm tia song song.
Thế (3) vào (2), ta được:
( ) ∫ ∫ ( )
( ) (4)
( ) ∫ (
) (5)
Kết hợp toàn bộ các tập hình chiếu trên tất cả các góc khác nhau sẽ thu được một
tập số liệu 2 chiều ( ), hay còn gọi là sinogram (do ảnh 2 chiều của bộ số liệu có
những vệt hình sóng sin). Sự biến đổi tập hợp ( ) sang sinogram ( ) được gọi
là biến đổi adon. Biến đổi adon ở một góc xác định được trình bày như sau:
( ) * ( + ∫ (
) (6)
(4)
4
Phương pháp chụp ảnh cắt lớp CT xác định được phân bố ật độ vật chất trong
ẫu vật dựa trên tính toán từ tập số liệu hình chiếu (số liệu các phép đo phóng xạ).
ặc trưng của phương pháp là ở cách bố trí thu thập dữ liệu trên lát cắt vật thể. ột số
lượng lớn các phép đo được ghi nhận trên ột lát cắt, trong đó ỗi phép đo liên quan
đến vị trí của nguồn kết hợp với vị trí của đầu dò.
ét trường hợp ột chù bức xạ có cường độ ban đầu I0 đi qua ẫu vật như
biểu diễn ở hình 2. Cường độ chù bức xạ I sau khi đi qua ẫu vật như sau:
* ∫ ( ) + (1)
iá trị chiếu g(s,) là tích phân đường (line integral) qua ẫu vật và được xác
định theo phương trình (2). Tích phân này được gọi là tổng tia (ray su ):
( ) *∫ ( )
+ (
) (2)
Ta có thể thấy, ặt phẳng u s là ặt phẳng x y xoay ột góc xoay . Trong
không gian 2 chiều, ối liên hệ giữa ặt phẳng gốc và ặt phẳng đã xoay ột góc
như sau:
(3)
ình 2. Phép lấy hình chiếu vật thể tại góc θ sử dụng chù tia song song.
Thế (3) vào (2), ta được:
( ) ∫ ∫ ( )
( ) (4)
( ) ∫ (
) (5)
ết hợp toàn bộ các tập hình chiếu trên tất cả các góc khác nhau sẽ thu được ột
tập số liệu 2 chiều ( ), hay còn gọi là sinogra (do ảnh 2 chiều của bộ số liệu có
những vệt hình sóng sin). Sự biến đổi tập hợp ( ) sang sinogra ( ) được gọi
là biến đổi adon. Biến đổi adon ở ột góc xác định được trình bày như sau:
( ) * ( + ∫ (
) (6)
(5)
K t hợp toàn bộ các tập hình chiếu trên tất cả c góc
khác nhau sẽ thu được một tập số liệu 2 chiều G(s,θ), hay
còn gọi là sinogram (do ảnh 2 chiều của bộ số liệu có những
vệt hình sóng sin). Sự biến đổi tập hợp f(x,y) sang sinogram
G(s,θ) được gọi là biến đổi Radon. Biến đổi Radon ở một
góc θ xác định được trình bày như sau:
4
Phương pháp chụp ảnh cắt lớp CT xác định được phân bố mật độ vật chất trong
mẫu vật dựa trên tính toán từ tập số liệu hình chiếu (số liệu các phép đo phóng xạ).
Đặc trưng của phương pháp là ở cách bố trí thu thập dữ liệu trên lát cắt vật thể. Một số
lượng lớn các phép đo được ghi nhận trên một lát cắt, trong đó mỗi phép đo liên quan
đến vị trí của nguồn kết hợp với vị trí của đầu dò.
Xét trường hợp một chùm bức xạ có cường độ ban đầu I0 đi qua mẫu vật như
biểu diễn ở hình 2. Cường độ chùm bức xạ I sau khi đi qua mẫu vật như sau:
* ∫ ( ) + (1)
Giá trị chiếu g(s,) là tích phân đường (line integral) qua mẫu vật và được xác
định theo phương trình (2). Tích phân này được gọi là tổng tia (ray sum):
( ) *∫ ( )
+ (
) (2)
Ta có thể t ấy, mặt phẳng uOs là mặt phẳng xOy xoay một góc xoay . Trong
không gian 2 chiều, mối liên hệ giữa mặt phẳng gốc và mặt phẳng đã xoay một góc
như sau:
(3)
Hình 2. Phép lấy hình chiếu vật thể tại góc θ sử dụng chùm tia song song.
Thế (3) vào (2), ta được:
( ) ∫ ∫ ( )
( ) (4)
( ) ∫ (
) (5)
Kết hợp toàn bộ các tập hình chiếu trên tất cả các góc khác nhau sẽ thu được một
tập số liệu 2 chiều ( ), hay còn gọi là sinogram (do ảnh 2 chiều của bộ số liệu có
những vệt hình só g sin). Sự biến đổi tập hợp ( ) sang sinogram ( ) được gọi
là biến đổi adon. Biến đổi adon ở một góc xác định được trình bày như sau:
( ) * ( + ∫ (
) (6) (6)
Biến đổi Radon ngược (iRadon) là quá trình ngược của
biến đổi Radon, tức là quá trình tái dựng lại hình ảnh từ dữ
liệu hình chiếu đo được bằng cách sử dụng các thuật toán
khác nhau.
5
Biến đổi adon ngược (iadon) là quá trình ngược của biến đổi adon, tức là quá
trình tái dựng lại hình ảnh từ dữ liệu hình chiếu đo được bằng cách sử dụng các thuật
toán khác nhau.
( ) * ( )+ (7)
Các thuật toán phổ biến được áp dụng trong kỹ thuật chụp cắt lớp điện toán bao
gồm các thuật toán tái tạo đại số (ART), chiếu ngược có lọc (FBP), tối đa hóa kỳ vọng
(EM), trong đó thuật toán FBP được sử dụng phổ biến nhất.
Hình học dựng ảnh thế hệ thứ tư
Dựng ảnh chụp cắt lớp điện toán là một quá trình tính toán giá trị của từng điểm
ảnh dựa trên số liệu hình chiếu đo đạc thông qua các thuật toán. Các giá trị được tính
cần 1 địa chỉ đúng trên ma trận ảnh để góp phần hiển thị thành hình ảnh. Trong cấu
hình CT thế hệ thứ tư, bất kỳ tia chiếu nào đều có thể xác định được bởi 2 tham số γ và
β, trong đó γ là góc được tạo bởi tia đang tính với tia đi qua tâm, và β là góc tao bởi tia
đi qua tâm nêu trên và trục y như mô tả trong hình 3. γ được gọi là góc dò và xác định
vị trí của một tia trong chùm tia hình quạt.
Một tia chiếu g(γ, β) trong chùm tia chiếu hình quạt là một tia chiếu g(s, θ)
trong chùm tia song song nếu các điều kiện sau được thỏa mãn:
(8)
Với R là khoảng cách giữa nguồn phát và tia đi qua tâm hệ đo, L là khoảng cách
từ nguồn phát đến điểm ảnh (x,y).
Hình 3. Hình học cấu hình thế hệ thứ tư.
Biến đổi Radon trong trường hợp chùm tia hình quạt như sau:
( ) ∫ ∫ ( )
(
( )
) (9)
Quá trình dựng ảnh cần sử dụng một ma trận hình ảnh hệ thống. Hình 3 mô tả
hình học cấu hình thế hệ thứ tư được sử dụng để xác định vị trí điểm ảnh cần tái tạo.
(7)
thuậ toán phổ biến được áp dụng trong kỹ thuật
chụp cắt lớp điện toán bao gồm các th ật toán tái tạo đại số
(ART), chiếu gược có lọc (FBP), tối đa hóa kỳ vọng (EM),
trong đó thuật toán FBP được sử dụng phổ biến nhất.
Hình học dựng ảnh thế hệ thứ tư
Dựng ảnh chụp cắt lớp điện toán là một quá trình tính
toán giá trị của từng điểm ảnh dựa trên số liệu hình chiếu đo
đạc thông qua các thuật toán. Các giá trị được tính cần một
địa chỉ đúng trên ma trận ảnh để góp phần hiển thị thành
hình ảnh. Trong cấu hình CT thế hệ thứ tư, bất kỳ tia chiếu
nào đều có thể xác định được bởi 2 tham số γ và β, trong đó
γ là góc được tạo bởi tia đang tính với tia đi qua tâm, và β là
góc tao bởi tia đi qua tâm nêu trên và trục y như mô tả trong
hình 3. γ được gọi là góc dò và xác định vị trí của một tia
trong chùm tia hình quạt.
Một tia chiếu g(γ, β) trong chùm tia chiếu hình quạt là
một tia chiếu g(s, θ) trong chùm tia song song nếu các điều
kiện sau được thỏa mãn:
5
Biến đổi adon ngược (iadon) là quá trình ngược của biến đổi adon, tức là quá
trình tái dựng lại hình ảnh từ dữ liệu hình chiếu đo được bằng cách sử dụng các thuật
toán khác nhau.
( ) * ( )+ (7)
Các thuật toán phổ biến được áp dụng trong kỹ thuật chụp cắt lớp điện toán bao
gồm các thuật toán tái tạo đại số (ART), chiếu ngược có lọc (FBP), tối đa hóa kỳ vọng
(EM), trong đó thuật toán FBP được sử dụng phổ biến nhất.
Hình học dựng ảnh thế hệ thứ tư
Dựng ảnh chụp cắt lớp điện toán là một quá trình tính toán giá trị của từng điểm
ảnh dựa trên số liệu hình chiếu đo đạc thông qua các thuật toán. Các giá trị được tính
cần 1 địa chỉ đúng trên ma trận ảnh để góp phần hiển thị thành hình ảnh. Trong cấu
hình CT thế hệ thứ tư, bất kỳ tia chiếu nào đều có thể xác định được bởi 2 tham số γ và
β, trong đó γ là góc được tạo bởi tia đang tính với tia đi qua tâm, và β là góc tao bởi tia
đi qua tâm nêu trên và trục y như mô tả trong hình 3. γ được gọi là góc dò và xác định
vị trí của một tia trong chùm tia hình quạt.
Một tia chiếu g(γ, β) trong chùm tia chiếu hình quạt là một tia chiếu g(s, θ)
trong chùm tia song song nếu các điều kiện sau được thỏa mãn:
(8)
Với R là khoảng cách giữa nguồn phát và tia đi qua tâm hệ đo, L là khoảng cách
từ nguồn phát đến điểm ảnh (x,y).
Hình 3. Hình học cấu hình thế hệ thứ tư.
Biến đổi Radon trong trường hợp chùm tia hình quạt như sau:
( ) ∫ ∫ ( )
(
( )
) (9)
Quá trình dựng ảnh cần sử dụng một ma trận hình ảnh hệ thống. Hình 3 mô tả
hình học cấu hình thế hệ thứ tư được sử dụng để xác định vị trí điểm ảnh cần tái tạo.
(8)
Với R là khoảng cách giữa nguồn phát và tia đi qua tâm
hệ đo, L là khoảng cách từ nguồn phát đến điểm ảnh (x,y).
Hình 3. Hình học cấu hình thế hệ thứ tư.
Biến đổi Radon trong trường hợp chùm tia hình quạt
như sau:
5
Biến đổi adon ngược (iadon) là quá trình ngược của biến đổi adon, tức là quá
trình tái dựng lại hình ảnh từ dữ liệu hình chiếu đo được bằng cách sử dụng các thuật
toán khác nhau.
( ) * ( )+ (7)
Các thuật toán phổ biến được áp dụng trong kỹ thuật chụp cắt lớp điện toán bao
gồm các thuật toán tái tạo đại số (ART), chiếu ngược có lọc (FBP), tối đa hóa kỳ vọng
(EM), trong đó thuật toán FBP được sử dụng phổ biến nhất.
Hình học dựng ảnh thế hệ thứ tư
Dựng ảnh chụp cắt lớp điện toán là một quá trình tính toán giá trị của từng điểm
ảnh dựa trên số liệu hình ch ếu đo đạc hông qua các thuật toán. Các giá trị được tính
cần 1 địa chỉ đúng trên ma trận ảnh để góp phần hiển thị thành hình ảnh. Trong cấu
hình CT thế hệ thứ tư, bất kỳ tia chiếu nào đều có thể xác định được bởi 2 tham số γ và
β, trong đó γ là góc được tạo bởi tia đang tính với tia đi qua tâm, và β là góc tao bởi tia
đi qua tâm nêu trên và trục y như mô tả trong hình 3. γ được gọi là góc dò và xác định
vị trí của một tia trong chùm tia hình quạt.
Một tia chiếu g(γ, β) trong chùm tia chiếu hình quạt là một tia chiếu g(s, θ)
trong chùm tia song song nếu các điều kiện sau được thỏa mãn:
(8)
Với R là khoảng cách giữa nguồn phát và tia đi qua tâm hệ đo, L là khoảng cách
từ nguồn phát đến điểm ảnh (x,y).
Hình 3. Hình học cấu hình thế hệ thứ tư.
Biến đổi Radon trong trường hợp chùm tia hình quạt như sau:
( ) ∫ ∫ ( )
(
( )
) (9)
Quá trình dựng ảnh cần sử dụng một ma trận hình ảnh hệ thống. Hình 3 mô tả
hình học cấu hình thế hệ thứ tư được sử dụng để xác định vị trí điểm ảnh cần tái tạo.
(9)
uá trình dựng ảnh cần sử dụng ột ma trận hình ảnh
hệ t ống. Hì 3 mô tả hình học cấu hình thế hệ thứ tư được
sử dụng để xác định vị trí điểm ảnh cần tái tạo. Với cấu hình
quạt thế hệ thứ tư, phương pháp xác định vị trí điểm ảnh qua
tia chiếu được tính như sau:
6
Với cấu hình quạt thế hệ thứ tư, phương pháp xác định vị trí điểm ảnh qua tia chiếu
được tính như sau:
( ) (10)
( ) (11)
Với: Lx, y, √
(12)
= tan-1 *
+ (13)
Mô phỏng cấu hình thế hệ thứ tư bằng phần mềm mô phỏng các quá trình hạt
nhân
Việc kiểm chứng hình học dựng ảnh được thực hiện thông qua số liệu mô phỏng
trước khi tiến hành thiết kế chi tiết và chế tạo phần cứng cơ khí. Hình 4 mô tả cấu hình
đo đạc số liệu hình chiếu thế hệ thứ tư bằng chương trình mô phỏng các quá trình hạt
nhân (MCNP). Cấu hình bao gồm 01 nguồn phóng xạ Co-60 được chuẩn trực chì với
góc mở 950 và khe mở chuẩn trực 20 mm cố định. 8 đầu dò nhấp nháy NaI(Tl) có kích
thước tinh thể 50 x 50 mm được che chắn bởi chì có độ dày thay đổi từ 20 đến 70 mm
với một khe mở có độ mở vô tận, chiều cao khe mở thay đổi từ 2-20 mm. Nguồn và
đầu dò được bố trí trên cùng một khung tròn có đường kính 2500 mm. Mẫu vật hình
tròn có đường kính ngoài 1500 mm với hai lớp vật liệu: bê tông nhẹ có mật độ 1,2
g/cm3 dày 100 mm bên trong và thành thép có mật độ 7,8 g/cm3 dày 10 mm bên ngoài.
Kết quả mô phỏng đã lựa chọn được kích thước khe mở đầu dò tối ưu: dày tối thiểu 20
mm và cao 20 mm. Bộ số liệu hình chiếu mô phỏng đã được thu thập với 128 hình
chiếu, mỗi hình chiếu có 128 tia chiếu như mô tả ở hình 5A. Hình 5B là ảnh cắt lớp tái
dựng từ bộ số liệu hình chiếu mô phỏng bằng thuật toán FBP với hình học dựng ảnh đã
mô tả theo (10), (11), (12) và (13).
Hình 4. Cấu hình đo đạc thế hệ thứ tư mô phỏng bằng MCNP.
(10)
6
ới cấu hình quạt thế hệ thứ tư, phương pháp xác định vị trí điể ảnh qua tia chiếu
được tính như sau:
( ) (10)
) (11)
ới: x, y,
(12)
= tan-1 *
+ (13)
ô phỏng cấu hình thế hệ th t bằng phần ề ô phỏng các quá trình hạt
nhân
iệc kiể chứng hình học dựng ảnh được thực hiện thông qua số liệu ô phỏng
trước khi tiến hành thiết kế chi tiết và chế tạo phần cứng cơ khí. ình 4 ô tả cấu hình
đo đạc số liệu hình chiếu thế hệ thứ tư bằng chương trình ô phỏng các quá trình hạt
nhân ( P). ấu hình bao gồ 01 nguồn phóng xạ o-60 được chuẩn trực chì với
góc ở 950 và khe ở chuẩn trực 20 cố định. 8 đầu dò nhấp nháy aI( l) có kích
thước tinh thể 50 x 50 được che chắn bởi chì có độ dày thay đổi từ 20 đến 70
với ột khe ở có độ ở vô tận, chiều cao khe ở thay đổi từ 2-20 . guồn và
đầu dò được bố trí trên cùng ột khung tròn có đường kính 2500 . ẫu vật hình
tròn có đường kính ngoài 1500 với hai lớp vật liệu: bê tông nhẹ có ật độ 1,2
g/c 3 dày 100 bên trong và thành thép có ật độ 7,8 g/c 3 dày 10 bên ngoài.
ết quả ô phỏng đã lựa chọn được kích thước khe ở đầu dò tối ưu: dày tối thiểu 20
và cao 20 . ộ số liệu hình chiếu ô phỏng đã được thu thập với 128 hình
chiếu, ỗi hình chiếu có 128 tia chiếu như ô tả ở hình 5 . ình 5 là ảnh cắt lớp tái
dựng từ bộ số liệu hình chiếu ô phỏng bằng thuật toán F P với hình học dựng ảnh đã
ô tả theo (10), (11), (12) và (13).
ình 4. ấu hình đo đạc thế hệ th t ô phỏng bằng .
(11)
i: (x, y, β) =
6
Với cấu hình q thế hệ thứ tư, phương pháp xác định vị trí điểm ảnh qua tia c iếu
được tính như s :
) (10)
) (11)
Với: Lx, √
(12)
= tan-1 *
+ (13)
Mô phỏn u hình thế hệ thứ tư bằng phần mềm mô phỏng các quá trình hạt
nhân
Việc kiể ng hình ọc dựng ảnh được thực hiện thông qua số liệu mô phỏng
trước khi tiến h thiết kế chi tiết và chế tạo phần cứng cơ khí. Hình 4 mô tả cấu hình
đo đạc số liệu chiếu thế hệ thứ tư bằng chương trình mô phỏng các quá trình hạt
nhân (MCNP). hình bao gồm 01 nguồn phóng xạ Co-60 được chuẩn trực chì với
góc mở 950 và ở chuẩn trực 20 mm cố định. 8 đầu dò nhấp nháy NaI(Tl) có kích
thước tinh thể 50 mm được che chắn bởi chì có độ dày thay đổi ừ 20 ến 70 mm
với một khe m độ mở vô tận, chiều cao khe mở thay đổi từ 2-20 mm. Nguồn và
đầu dò được b í trên cùng một khung tròn có đường kính 2500 mm. Mẫu vật hình
tròn có đường ngoài 1500 mm với hai lớp vật liệu: bê tông nhẹ có mật độ 1,2
g/cm3 dày 100 bên trong và thàn thép có mật độ 7,8 g/cm3 dày 10 mm bên ngoài.
Kết quả mô ph đã lựa chọn được kí h thước khe mở đầu dò tối ưu: dày tối thiểu 20
mm và cao 20 . Bộ số liệu hìn chiếu mô phỏng đã được thu thập với 128 hình
chiếu, mỗi hình iếu có 128 tia chiếu như mô tả ở hình 5A. Hình 5B là ảnh cắt lớp tái
dựng từ bộ số li ình chiếu mô phỏng bằng thuật oán FBP với hình học dự g ảnh đã
mô tả theo (10), ), (12) và (13).
Hình 4. Cấu hì o đạc thế hệ thứ tư mô phỏng bằng MCNP.
(12)
6
Với cấu hình quạt thế hệ thứ tư, phương pháp xác định vị trí điểm ảnh qua tia chiếu
được tính như sau:
( ) (10)
( ) (11)
, y,
(12)
= tan-1 *
+ (13)
Mô phỏng cấu hình thế hệ thứ tư bằng phần mềm mô phỏng các quá trình hạt
nhân
Việc kiểm chứng hình học dựng ảnh được thực hiện thông qua số liệu mô phỏng
trước khi tiến hành thiết kế chi tiết và chế tạo phần cứng cơ khí. Hình 4 mô tả cấu hình
đo đạc số liệu hình c iếu thế hệ thứ tư bằng chương trình mô phỏng các quá trình hạt
nhân (MCNP). Cấu hình bao gồm 01 nguồn phóng xạ Co-60 được chuẩn trực chì với
góc mở 950 và khe mở chuẩn trực 20 mm cố định. 8 đầu dò nhấp nháy NaI(Tl) có kích
thước tinh thể 50 x 50 mm được che chắn bởi chì có độ dày thay đổi từ 20 đến 70 mm
với một khe mở có độ mở vô tận, chiều cao khe mở thay đổi từ 2-20 mm. Nguồn và
đầu dò được bố trí trên cùng một khung tròn có đường kính 2500 mm. Mẫu vật hình
tròn có đường kính ngoài 1500 mm với hai lớp vật liệu: bê tông nhẹ có mật độ 1,2
g/cm3 dày 100 mm bên trong và thành thép có mật độ 7,8 g/cm3 dày 10 mm bên ngoài.
Kết quả mô phỏng đã lựa chọn được kích thước khe mở đầu dò tối ưu: dày tối thiểu 20
mm và cao 20 mm. Bộ số liệu hình chiếu mô p ỏ g đã được thu thập với 128 hình
chiếu, mỗi hình chiếu có 128 tia chiếu như mô tả ở hình 5A. Hình 5B là ảnh cắt lớp tái
dựng từ bộ số liệu hình chiếu mô phỏng bằng thuật toán FBP với hình học dựng ảnh đã
mô tả theo (10), (11), (12) và (13).
Hình 4. Cấu hình đo đạc thế hệ thứ tư mô phỏng bằng MCNP.
(13)
2661(11) 11.2019
Khoa học Kỹ thuật và Công nghệ
Mô phỏng cấu hình thế hệ thứ tư bằng phần mềm mô
phỏng các quá trình hạt nhân
Việc kiểm chứng hình học dựng ảnh được thực hiện
thông qua số liệu mô phỏng trước khi tiến hành thiết kế chi
tiết và chế tạo phần cứng cơ khí. Hình 4 mô tả cấu hình đo
đạc số liệu hình chiếu thế hệ thứ tư bằng chương trình mô
phỏng các quá trình hạt nhân (MCNP). Cấu hình bao gồm
01 nguồn phóng xạ Co-60 được chuẩn trực chì với góc mở
950 và khe mở chuẩn trực 20 mm cố định, 8 đầu dò nhấp
nháy NaI(Tl) có kích thước tinh thể 50x50 mm được che
chắn bởi chì có độ dày thay đổi từ 20-70 mm với một khe
mở có độ mở vô tận, chiều cao khe mở thay đổi từ 2-20
mm. Nguồn và đầu dò được bố trí trên cùng một khung tròn
có đường kính 2500 mm. Mẫu vật hình tròn có đường kính
ngoài 1500 mm với hai lớp vật liệu: bê tông nhẹ có mật độ
1,2 g/cm3 dày 100 mm bên trong và thành thép có mật độ
7,8 g/cm3 dày 10 mm bên ngoài. Kết quả mô phỏng đã lựa
chọn được kích thước khe mở đầu dò tối ưu: dày tối thiểu 20
mm và cao 20 mm. Bộ số liệu hình chiếu mô phỏng đã được
thu thập với 128 hình chiếu, mỗi hình chiếu có 128 tia chiếu
như mô tả ở hình 5A. Hình 5B là ảnh cắt lớp tái dựng từ bộ
số liệu hình chiếu mô phỏng bằng thuật toán FBP với hình
học dựng ảnh đã mô tả theo (10), (11), (12) và (13).
Hình 4. Cấu hình đo đạc thế hệ thứ tư mô phỏng bằng MCNP.
A B
Hình 5. Bộ số liệu hình chiếu (Sinogram) từ kết quả mô phỏng
MCNP (A) và hình ảnh tái dựng bằng thuật toán FBP và hình
học dựng ảnh thế hệ thứ tư (B).
Kết quả và thảo luận
Thiết kế và chế tạo phần cứng thiết bị CT thế hệ thứ tư
Căn cứ kết quả mô phỏng và hình ảnh từ số liệu mô
phỏng được tái dựng, cấu hình phần cứng thiết bị CT thế hệ
thứ tư đã được thiết kế như mô tả trong các hình 6 và 7. Ở
mỗi góc chiếu, căn cứ vào số lượng tia chiếu cần thiết trên
mỗi hình chiếu, 8 đầu dò cần phải xoay thêm một số lần
trong khi nguồn phóng xạ vẫn đứng yên. Hình 6A minh họa
trường hợp các đầu dò xoay thêm 4 lần để mỗi hình chiếu
có 40 tia chiếu. Sau khi đo đạc xong 8 tia chiếu đầu tiên (các
đường liền nét màu đỏ), 8 đầu dò sẽ cùng quay lần lượt thêm
4 lần, mỗi lần 4,50 để đo các tia chiếu trung gian (các đường
nét đứt màu xanh). Với yêu cầu kích thước của khung xoay
cơ khí là nhỏ nhất, nguồn và đầu dò được bố trí như mô tả
ở hình 6A khi mẫu vật có kích thước đến 1700 mm. Đối với
mẫu có kích thước từ 1700 đến 2000 mm, nguồn và đầu dò
sẽ được bố trí như hình 6B.
(A) Kích thước mẫu đến 1700
mm
(B) Kích thước kính mẫu đến
2000 mm
Hình 6. Thiết kế nguyên lý phần cứng thiết bị CT cấu hình thế
hệ thứ 4.
Khung quay cơ khí A trong hình 7 là một khung hình
vành khăn có 3 lớp: lớp dưới cùng cố định làm sàn tựa cho
các con lăn quay hai lớp trên, lớp này có một vòng ray xích
chạy quanh đường kính ngoài; lớp thứ hai là lớp làm sàn tựa
để quay lớp trên cùng, lớp thứ hai này cũng có một vòng ray
xích chạy quanh đường kính ngoài. Nguồn phóng xạ được
lắp cố định vào lớp thứ hai. 8 đầu dò được lắp cố định vào
lớp trên cùng. Động cơ B và hộp số được lắp cố định vào
lớp thứ hai, bánh răng gắn vào trục hộp số chạy trên ray xích
của lớp dưới cùng. Động cơ C và hộp số được lắp cố định
vào lớp trên cùng, bánh răng gắn vào trục quay của hộp số
chạy trên ray xích của lớp thứ hai. Hộp số giảm tốc có cấu
tạo kiểu trục vít - bánh vít, do đó lớp khung thứ hai và thứ
ba không thể tự xoay hoặc tự trượt nếu động cơ không quay.
Khi cần thay đổi hình chiếu, động cơ B sẽ quay kéo lớp thứ
hai và lớp trên cùng xoay (nguồn và đầu dò cùng xoay). Khi
2761(11) 11.2019
Khoa học Kỹ thuật và Công nghệ
cần tăng số tia chiếu, động cơ C sẽ quay kéo lớp trên cùng
quay (nguồn đứng yên, đầu dò xoay). Khung quay cơ khí
hình vành khăn được gia công từ nhiều mảnh ghép nhỏ để
dễ vận chuyển và dễ lắp đặt vào các thiết bị công nghiệp cố
định trong nhà máy.
Hình 7. A: khung quay cơ khí 3 lớp, B: động cơ và hộp số điều
khiển xoay thay đổi hình chiếu, C: động cơ và hộp số điều khiển
xoay thay đổi tia chiếu, D: khối chì che chắn đầu dò, S: chuẩn
trực chứa nguồn phóng xạ.
Thử nghiệm thiết bị trên mẫu vật trong phòng thí
nghiệm
Mẫu thiết bị chụp CT thế hệ thứ tư đã được gia công chế
tạo theo các thông số từ tính toán mô phỏng và thiết kế kỹ
thuật như đã trình bày ở các phần trên. Phần mềm tái dựng
hình ảnh cắt lớp đã được xây dựng dựa trên thuật toán FBP
và hình học dựng ảnh thế hệ thứ tư. Thiết bị đã được thử
nghiệm trên một mẫu vật mô phỏng tháp công nghiệp để
kiểm chứng và đánh giá phương pháp chụp ảnh CT thế hệ
thứ tư khảo sát các vật thể có kích thước lớn. Hình 8 mô tả
cấu trúc của mẫu mô phỏng một đoạn tháp công nghiệp có
đường kính 1500 mm, thành bằng thép dày 15 mm và một
lớp bê tông dày 125 mm có nhiều vết nứt vỡ bên trong. Hình
9A chụp thiết bị cùng mẫu vật, hình 9B là bộ số liệu hình
chiếu mặt trên của mẫu vật, hình 9C là bộ số liệu hình chiếu
mặt dưới của mẫu vật. Hình 10 là hình ảnh tái dựng từ các
bộ số liệu hình chiếu thu được bằng thuật toán FBP.
Hình 8. Cấu trúc mẫu tháp có gạch/bê tông chịu lửa bên trong.
B
A C
Hình 9. Thiết bị CT và mẫu (A), bộ số liệu hình chiếu 128 hình
chiếu x 512 tia chiếu mặt trên của mẫu (B) và bộ số liệu hình
chiếu 128 hình chiếu x 512 tia chiếu mặt dưới của mẫu (C).
(A) Mặt trên (B) Mặt dưới (c) Kích thước vết
vỡ AB
Hình 10. Hình cắt lớp tái dựng từ các bộ số liệu hình chiếu bằng
thuật toán FBP.
Đánh giá một cách định tính có thể thấy rằng hình ảnh
CT tái dựng có chất lượng tốt và ít nhiễu. Vị trí và kích thước
của các vết nứt vỡ được thể hiện rõ. Bằng công cụ phần mềm
tái tạo ảnh, kích thước ngang của một số vết nứt vỡ được xác
định và trình bày ở bảng 1. Kết quả cho thấy sai số xác định
càng lớn khi kích thước vết vỡ càng nhỏ, lên đến 54% ở kích
thước 10 mm. Trong trường hợp này, nguyên nhân chính là
do kích thước của điểm ảnh. Với bộ số liệu 512 tia chiếu,
kích thước của 1 điểm ảnh vào khoảng 7,5x7,5 mm. Do đó
vết nứt có chiều ngang 10 mm sẽ được hiển thị ít nhất bằng 2
pixel, tương đương 15 mm. Để giảm sai số này về mức 10%,
số tia chiếu cần thiết sẽ vào khoảng 800, tương đương 100
lần dịch chuyển trung gian của đầu dò.
Bảng 1. Kích thước ngang các vết nứt vỡ thực tế và đo đạc qua
hình ảnh tái dựng.
Kích thước vết vỡ thực
tế (sâu x ngang) (mm)
Kích thước ngang
trên hình ảnh (mm)
Sai số tương đối
(%)
Mặt trên: 30x70 76,8 9,7
Mặt trên: 50x50 55,4 10,8
Mặt dưới: 50x30 33,9 13,0
Mặt dưới: 70x10 15,4 54,0
Hình 11A là giản đồ giá trị điểm ảnh của đoạn thẳng AB
trên hình ảnh cắt lớp (hình 11B) cho thấy 3 vùng mật độ
khác nhau rất rõ: thép (giá trị độ xám: 170-175), bê tông (giá
trị độ xám: 50) và không khí (giá trị độ xám: 15). Bảng 2 là
các giá trị về mật độ, hệ số hấp thụ khối (µ/ρ), hệ số hấp thụ
tuyến tính (cm-1) [4], giá trị độ xám trên hình ảnh của thép,
2861(11) 11.2019
Khoa học Kỹ thuật và Công nghệ
bê tông và không khí. Hình 12 thể hiện sự tương quan tuyến
tính của các giá trị tái tạo ở thang độ xám và hệ số hấp thụ
tuyến tính của vật liệu đối với giá trị trung bình của năng
lượng các tia gamma phát ra nguồn Co-60.
A B
Hình 11. Giản đồ giá trị điểm ảnh (A) ở thang độ xám của đoạn
thẳng AB trên ảnh tái dựng bằng thuật toán FBP (B).
Bảng 2. Mật độ, hệ số hấp thụ khối, hệ số hấp thụ tuyến tính, giá
trị độ xám của các vật liệu.
Mật độ
(g/cm3)
Hệ số hấp thụ khối
(cm2/g) với gamma
1,25 MeV
Hệ số hấp thụ tuyến
tính (1/cm) với
gamma 1,25 MeV
Giá trị
độ xám trên
ảnh tái tạo
Thép 7,8 0,054 4,17x10-1 175
Bê tông 2.2 0,058 1,16x10-1 50
Không khí 0,001225 0,057 6,97x10-5 15
Kết luận
Phương pháp chụp CT thế hệ thứ tư khảo sát tháp công
nghiệp kích thước lớn đã được nghiên cứu và xây dựng
thành công. Mẫu thiết bị CT thế hệ thứ tư đã được chế tạo
với cấu hình đo đạc 1 nguồn phóng xạ và 8 đầu dò nhấp
nháy NaI(Tl) bố trí trên một khung tròn đồng tâm với khung
xoay cơ khí. Phần mềm tái dựng ảnh cắt lớp với các thuật
toán thông dụng đã được lập trình thành công dựa trên hình
học dựng ảnh thế hệ thứ tư. Các kết quả thử nghiệm cho
thấy hình ảnh tái dựng từ bộ số liệu hình chiếu thế hệ thứ
tư đúng với hình dạng và kích thước của mẫu. Hình ảnh có
độ phân giải mật độ tốt, độ phân giải không gian đủ để khảo
sát các đối tượng trong công nghiệp. Kích thước khung cơ
khí cho phép khảo sát được các tháp lọc hóa dầu có đường
kính lên đến 2 m với nhiều thành phần vật liệu như thép, bê
tông Giải pháp xoay đầu dò trung gian để tăng số tia thật
sự hữu ích với điều kiện số đầu dò hạn chế, từ đó thiết bị cần
ít máy đo hạt nhân hơn, giá thành thiết bị từ đó cũng giảm
đáng kể. Người sử dụng có thể chủ động thiết lập thay đổi số
tia chiếu dựa vào điều kiện thực tế trên công trường, từ đó
có thể tiết kiệm được thời gian đo đạc hay tăng cường chất
lượng ảnh trong một số trường hợp.
TÀI LIỆU THAM KHẢO
[1] L. de Chiffire, S. Carmignato, J.P. Kruth, R. Chmitt, A. Weck-
enmann (2014), “Industrial application of computer tomography”,
CIRP Annals, 63(2), pp.655-667.
[2] Daniel Schnebark (2004), CT scan of NASA Booster Nozzle,
Lawrence Livermore National Laboratory, USA.
[3] International Atomic Energy Agency (2008), Industrial Pro-
cess Gamma Tomography, IAEA TecDoc 1589.
[4]2https://www.nist.gov/pml/x-ray-mass-attenuation-coeffi-
cients, NIST X-ray Attenuation Databases.
Hình 12. Sự tương quan tuyến tính giữa giá trị độ xám tái tạo và
hệ số hấp thụ tuyến tính của các vật liệu.
Các file đính kèm theo tài liệu này:
- nghien_cuu_phuong_phap_chup_anh_cat_lop_dien_toan_the_he_thu.pdf