Trong bài báo này, phương pháp tương quan ảnh số DIC
được sử dụng để xác định trường biến dạng của vật liệu hàn
không chì InnoLot. Quy trình chế tạo chi tiết thí nghiệm sử
dụng cho phương pháp tương quan ảnh số DIC cũng như hệ
thống thí nghiệm được trình bày trong nghiên cứu này. Kết
quả của nghiên cứu này chứng tỏ, phương pháp tương quan
ảnh số cho kết quả tốt hơn so với phương pháp đo truyền
thống (sử dụng các 2 cảm biến) trong việc xác định được
điểm bắt đầu của vết nứt trong chi tiết thí nghiệm.
4 trang |
Chia sẻ: huongthu9 | Lượt xem: 573 | Lượt tải: 0
Bạn đang xem nội dung tài liệu Xác định trường biến dạng trên toàn bộ chi tiết mối hàn bằng phương pháp tương quan ảnh số, để tải tài liệu về máy bạn click vào nút DOWNLOAD ở trên
ISSN 1859-1531 - TẠP CHÍ KHOA HỌC VÀ CÔNG NGHỆ ĐẠI HỌC ĐÀ NẴNG, SỐ 11(132).2018, QUYỂN 2 1
XÁC ĐỊNH TRƯỜNG BIẾN DẠNG TRÊN TOÀN BỘ CHI TIẾT MỐI HÀN BẰNG
PHƯƠNG PHÁP TƯƠNG QUAN ẢNH SỐ
FULL-FIELD STRAIN MEASUREMENT OF SOLDER JOINTS BY
USING DIGITAL IMAGE CORRELATION METHOD
Tào Quang Bảng1, Bùi Hệ Thống2
1Trường Đại học Bách khoa – Đại học Đà Nẵng; tqbang@dut.udn.vn
2Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật – Đại học Đà Nẵng
Tóm tắt - Nhiều nghiên cứu chỉ ra rằng các kỹ thuật đo biến dạng hiện
đang sử dụng không cung cấp đầy đủ thông tin về cơ chế phá hủy của
vật liệu. Do đó, việc phát triển kỹ thuật đo đạc phân tích hiện đại đang
nên rất cần thiết và đã nhận được sự quan tâm lớn của các nhà khoa
học trên thế giới. Vì vậy, trong bài báo này, một kỹ thuật thử nghiệm
mới có tên gọi là Tương quan ảnh số - Digital Image Correlation (DIC)
- sẽ được sử dụng để xác định trường biến dạng trên toàn bộ cấu kiện.
Chúng tôi phát triển một thiết bị thí nghiệm kết hợp với những thiết bị
trích xuất hình ảnh để xác định trường biến dạng trên toàn bộ chi tiết
của vật liệu hàn mới InnoLot. Bên cạnh đó, các thông số cơ bản của
vật liệu hàn xuất ra từ phương pháp tương quan ảnh số sẽ được so
sánh với kết quả từ các cảm biến lực và chuyển vị để kiểm chứng.
Abstract - Many studies have indicated that strain measurement
techniques currently in use fail to offer sufficient information on the
mechanism for material destruction. Therefore, it is necessary to
develop modern analysis and measurement techniques, which has
attracted great attention from scientists in the world. Hence in this
paper, a new testing technique called Digital Image Correlation
(DIC) is employed to determine full-field strain over an entire
specimen. An experimental apparatus has been developed and
combined with image extraction equipment to determine full-field
strain over all details of the novel InnoLot solder material. Besides,
fundamental material parameters of the solder material extracted
from the DIC are compared with results obtained from force
sensors and transposition for the sake of verification.
Từ khóa - vật liệu hàn; cơ tính; tương quan ảnh số; DIC; trường
biến dạng.
Key words - solder material; mechanical properties; digital image
correlation; DIC; Full-field strain measurement.
1. Đặt vấn đề
Vật liệu hàn có chứa chì (Pb-based solder) vẫn là lựa
chọn đầu tiên cho nhiều ứng dụng với nhiệt độ cao bởi vì
nhiều ưu điểm, ví dụ như độ chảy dẻo tốt, điểm nhiệt độ cùng
tinh thấp,... Tuy nhiên, năm 2006, hai tổ chức Restriction of
hazardous substances (RoHS) và Waste Electrical and
Electronic Equipment Directive (WEEE) đã đưa ra luật hạn
chế sử dụng vật liệu hàn có chứa chì trong các sản phẩm điện
tử, bởi tác hại của chì đối với sức khỏe con người và cả môi
trường sống [1]. Vì vậy, các nhà sản xuất đang theo đuổi một
thế hệ mới của vật liệu hàn không chì mà vẫn đảm bảo duy
trì và cải thiện đặc tính của vật liệu hàn.
Vì vậy, việc sử dụng các chất hàn không chì đã trở nên
phổ biến kể từ khi có hiệu lực pháp luật cấm trên. Trong số
các vật liệu hàn không chì mới được tạo ra, hợp kim SAC
(Sn (thiếc)/Ag (bạc)/Cu (đồng)) đặc biệt thích hợp cho các
mối hàn ứng dụng trong khối điện tử công suất. Mặc khác,
trong điều kiện vận hành công suất cao, các mối hàn trong
các mô-đun này chịu tác động của nhiệt cao, do đó có thể
gây ra sự phá hủy của chúng do nứt mỏi. Sự phá hủy cũng
có thể được tạo ra bởi shock hoặc rung động cơ học trên cụm
điện tử. Vì vậy, vấn đề nghiên cứu về độ tin cậy của vật liệu
hàn trong thiết bị điện tử vẫn là một thách thức hiện nay và
được nhiều nhà nghiên cứu quan tâm. Một vài nhà nghiên
cứu đã chứng minh rằng, những đặc tính của vật liệu hàn
SAC có thể tăng lên sau khi thêm vào các nguyên tố Bi, Ni,
Zn, Mn, Sb, Fe, [2-9]. Trong số những vật liệu hàn không
chì mới đó thì SAC387-3Bi-1,5Sb-0,15Ni, có tên thương
mại là InnoLot, được lựa chọn như là vật liệu hàn chính cho
các mối hàn của mạch điện tử ngày nay, đặc biệt là trong
công nghiệp ôtô. SAC387-3Bi-1,5Sb-0,15Ni là một vật liệu
hàn được tạo ra dựa vào vật liệu chính SAC387 và thêm
vào 3 nguyên tố Bi, Sb và Ni để sử dụng cho những chi tiết
trong các điều khiện khắc nghiệt. Tác dụng của các nguyên
tố Ni, Bi và Sb khi thêm vào vật liệu hàn đã được nghiên
cứu trong nhiều nghiên cứu [3, 5, 8-10]. Trong những
nghiên cứu này, khi thêm vào dù chỉ 0,05%Ni nhưng nó
cũng thay đổi cấu trúc tế vi của vật liệu: cấu trúc mịn hơn,
đồng đều thành phần hóa học hơn vì thế làm tăng cơ tính
và độ cứng tế vi. Khi thêm Sb và Bi vào thì làm cho ma
trận Sn trở nên mịn hơn và làm tăng độ cứng tuy nhiên thêm
Sb vào cũng có nhược điểm là làm tăng nhiệt độ nóng chảy.
Hiện nay, có nhiều phương pháp cơ tính của vật liệu,
trường biến dạng hay xác định đường đi của vết nứt trong
chi tiết được sử dụng và một trong những phương pháp
được sử dụng nhiều nhất là tương quan ảnh số (DIC –
Digital Image Correlation). Phương pháp DIC được đề xuất
bởi các nhà nghiên cứu [11-13] ở Đại học Southern
Carolina (Mỹ) vào đầu những năm 1980. Tuy nhiên, trong
những năm gần đây, phương pháp tương quan ảnh số DIC
mới được quan tâm hơn để đo các trường biến dạng trong
nhiều lĩnh vực ứng dụng khác nhau [14]. Cụ thể, nó đã
được sử dụng trong nhiều lĩnh vực và cho các vật liệu khác
nhau như: vật liệu sinh học, kim loại – hợp kim, polyme,
hoặc geomaterials [15-18]. Hơn nữa, sự kết hợp của DIC
với việc đo (kiểm tra) độ bền tại chỗ đã được phát triển để
xác định biến dạng chi tiết ở kích thước micro và nano [19].
Với những ưu điểm trên của phương pháp tương quan
ảnh số DIC, trong bài báo này, nhóm tác giả đã sử dụng
phương pháp này để xác định trường biến dạng trên toàn
bộ chi tiết thí nghiệm của vật liệu hàn không chì InnoLot.
Quy trình chế tạo chi tiết thí nghiệm, xử lý bề mặt chi tiết
cũng như thiết lập hệ thống thí nghiệm DIC được trình bày
trong bài báo này. Kết quả của nghiên cứu chứng minh
rằng, việc sử dụng phương pháp DIC giúp xác định chính
xác trường biến dạng trên toàn bộ chi tiết thí nghiệm và từ
2 Tào Quang Bảng, Bùi Hệ Thống
đó dể dàng xác định các thông số cơ tính của vật liệu.
2. Vật liệu và chi tiết thí nghiệm
2.1. Vật liệu hàn
Như đã trình bày ở trên, trong nghiên cứu này, vật liệu
hàn không chì InnoLot được chọn để nghiên cứu. Thành
phần hóa học của vật liệu này được thể hiện ở Bảng 1.
Bảng 1. Thành phần hóa học của vật liệu hàn InnoLot
Sn Ag Cu Sb Bi Fe Al As Ni Tchảy Tnguội
90,8 3,8 0,7 1,54 3,0 0,003 <0,001 0,005 0,15 2180C 2060C
2.2. Quy trình chế tạo chi tiết thí nghiệm
2.2.1. Chế tạo chi tiết
Để xác định chính xác các thông số cơ học của vật liệu thì
yêu cầu chi tiết thí nghiệm phải có kích thước tương đương
hoặc bằng với kích thước chi tiết sử dụng thực tế. Các chi tiết
có mối hàn sử dụng trong ôtô đều có kích thước rất nhỏ từ vài
trăm micromet tới milimet, vì thế tác giả đã lựa chọn chế tạo
chi tiết thí nghiệm với kích thước tối đa tới mm. Qui trình chế
tạo được thể hiện trên Hình 1, theo các bước sau:
B1) Đầu tiên vật liệu Hàn được nung chảy trong lò với
nhiệt độ lớn hơn 1000C so với nhiệt độ nóng chảy của vật
liệu trong cái cốc được chế tạo từ vật liệu graphite;
B2) Sau khi vật liệu hàn đã chảy loãng sẽ được rót
nhanh chóng vào khuôn kim loại, khuôn kim loại này được
chế tạo từ vật liệu 304-Inox với kích thước 80x18x16mm.
Bên cạnh đó, khuôn được đặt trong nước với nhiệt độ của
nước được giữ ở khoảng 250C - 350C;
B3) Sau khoảng 3-5 phút, vật đúc nguội và được lấy ra
dể dàng từ khuôn (Hình 1a);
B4) Vật đúc được đem đi cắt thành nhiều chi tiết nhỏ,
mỏng bằng phương pháp cắt dây EDM. Chi tiết sau khi cắt
có kích thước 20x5x1 mm với bán kính góc lượn 17mm để
giảm tập trung ứng suất (Hình 1b);
B5) Cuối cùng, trước khi thí nghiệm, chi tiết được Ram
ở nhiệt độ 1000C trong 2h sau đó làm nguội trong môi
trường không khí tĩnh để loại bỏ hoàn toàn ứng suất dư
trong quá trình cắt EDM.
a)
b)
Hình 1. Qui trình chế tạo chi tiết thí nghiệm
Đối với phương pháp tương quan ảnh số, độ chính xác
của phép đo phụ thuộc vào rất nhiều yếu tố như độ phân giải
của camera, nguồn sáng, lens, chất lượng bề mặt chi tiết, độ
tương phản của bề mặt chi tiết, . Tuy nhiên, độ tương phản
của hình ảnh khi chụp bề mặt chi tiết là yếu tố quyết định
nhất. Vì vậy, việc chuẩn bị bề mặt chi tiết sử dụng cho
phương pháp tương quan ảnh số được chuẩn bị rất kỹ lưỡng.
Phương pháp thường được sử dụng là phương pháp tạo vết
đốm (speckling). Trong nghiên cứu này, bề mặt chi tiết được
phủ một lớp sơn mỏng với các đốm trắng và đen xen kẻ và
không bóng để giảm thiểu phản xạ trong quá trình chụp ảnh.
Để làm được điều đó, một hệ thống phun sơn đầu kim được
sử dụng với kích thước vòi phun 0,2mm dưới sự trợ giúp của
bình nén khí có áp suất làm việc 2 bar. Hệ thống xử lý bề
mặt chi tiết được thể hiện trong Hình 2. Sự khác nhau giữa
trước và sau speckling được thể hiện trong Hình 3. Chúng ta
có thể kết luận rằng, hình ảnh sau khi speckling tốt hơn rất
nhiều so với tự nhiên vì độ mịn của hình ảnh.
Hình 2. Hệ thống xử lý bề mặt chi tiết
a) b)
Hình 3. Hình ảnh trước (a) và sau khi sơn (b)
2.2.2. Hệ thống máy thí nghiệm DIC
Để tiến hành thí nghiệm với hệ thống DIC, một máy thí
nghiệm kéo nén cở nhỏ được thiết kế. Hệ thống này sau đó
được tích hợp thêm với một CCD Camera và lens với độ
phân giải lớn. Các thông số của CCD camera và lens được
thể hiện trong Bảng 2. Ngoài ra, một hệ thống thanh trượt
bao gồm hệ điều chỉnh micromet theo phương dọc và ngang
được lắp đặt trên camera để điều chỉnh vị trí chính xác
camera so với chi tiết thí nghiệm. Bên cạnh đó, để tăng chất
lượng của hình ảnh thu nhận được qua CCD camera, điều
kiện về ánh sáng được quan tâm. Cụ thể, nguồn sáng nhân
tạo từ đèn LED được sử dụng để giúp tạo ra ánh sáng phẳng
với cường độ ổn định và tốt. Hệ thống thí nghiệm sử dụng
phương pháp tương quan ảnh số được thể hiện trong Hình 4.
Bảng 2. Thông số kỹ thuật của CCD camera
Thông số Đặc tính
Resolution (Độ phân giải) 1360 x 1024 pixels
Pixel size (kích thước điểm ảnh) 4,65 x 4,65 µm
Pixel format (định dạng điểm ảnh) 8-bit, 10-bit
Imaging frequency (tần số ảnh) 0,1-15 fps
Exposure time (thời gian phơi sáng) 100µs
ISSN 1859-1531 - TẠP CHÍ KHOA HỌC VÀ CÔNG NGHỆ ĐẠI HỌC ĐÀ NẴNG, SỐ 11(132).2018, QUYỂN 2 3
Hình 4. Hệ thống thí nghiệm tương quan ảnh số DIC
3. Kết quả và thảo luận
Sau khi thiết lập thí nghiệm hoàn chỉnh, chi tiết được thí
nghiệm với tốc độ kéo 2,0x10-4mm/s. CCD camera được
điều chỉnh để có thể chụp 1ảnh/1s và những ảnh được chụp
được lưu lại trong máy tính. Sau đó các ảnh này sẽ được trích
xuất sử dụng cho chương trình tính toán. Chương trình tính
toán ở đây có tên gọi là Ncorr [20], được viết bằng Mathlab
và là nguồn mở. Kết quả sau khi chạy Ncorr thể hiện trường
biến dạng trên toàn bộ chi tiết thí nghiệm, từ đó có thể xác
định được các thông số cơ tính của vật liệu đó.
Hình 5, 2 hình ảnh ví dụ thu được trước và sau khi biến
dạng. Chương trình tính toán Ncorr sẽ so sánh sự khác nhau
giữa hình ảnh trước và sau khi biến dạng để từ đó đưa ra
trường biến dạng của chi tiết.
(a) (b)
Hình 5. Hình ảnh sử dụng cho tính toán DIC:
a) trước biến dạng b) sau biến dạng
Hình 6. Trường biến dạng trên chi tiết thí nghiệm
Kết quả của tính toán trường biến dạng sử dụng phương
pháp tương quan ảnh số DIC được thể hiện trong Hình 6. Kết
quả đo này sẽ được kiểm nghiệm với kết quả đo sử dụng cảm
biến. Hai cảm biến được sử dụng ở trong thí nghiệm này gồm
cảm biến lực và cảm biến chuyển vị. Kết quả nhận được từ
2 cảm biến này sử dụng để vẽ ra đường cong biến dạng và
ứng suất và từ đó có thể xác định được các thông số cơ tính
của vật liệu. Thực vậy, Hình 7 thể hiện sự so sánh của kết
quả từ phương pháp DIC với kết quả thu được từ phương
pháp đo truyền thống sử dụng các cảm biến: lực và chuyển
vị (Hình 7).
Hình 7. So sánh kết quả giữa 2 phương pháp đo: sử dụng cảm
biến và tương quan ảnh số
Từ Hình 7, dễ dàng nhận thấy rằng các thông số cơ
tính của vật liệu hàn này được xuất ra từ hai phương pháp
trên gần giống nhau, mô-đun đàn hồi lần lượt là 36GPa so
với 34GPa cho phương pháp DIC và cảm biến LVDT. Hệ
số Poisson của vật liệu hàn này với 2 phương pháp này là
như nhau và bằng 0,24. Ngoài ra, hình ảnh trường biến
dạng cũng chứng tỏ rằng hiệu quả hơn rất nhiều so với
phương pháp đo vật lý (sử dụng cảm biến) vì phương pháp
DIC có thể xác định được điểm bắt đầu của nứt xuất phát
từ đâu dựa vào biểu đồ trường ứng suất. Dựa vào trường
biến dạng xuất ra được từ phương pháp tương quan ảnh
số DIC, chúng ta có thể xác định được nơi nào của chi tiết
thí nghiệm bị phá hủy đầu tiên và rất quan trọng trong
nghiên cứu xác định vết nứt ban đầu của chi tiết.
4. Kết luận
Trong bài báo này, phương pháp tương quan ảnh số DIC
được sử dụng để xác định trường biến dạng của vật liệu hàn
không chì InnoLot. Quy trình chế tạo chi tiết thí nghiệm sử
dụng cho phương pháp tương quan ảnh số DIC cũng như hệ
thống thí nghiệm được trình bày trong nghiên cứu này. Kết
quả của nghiên cứu này chứng tỏ, phương pháp tương quan
ảnh số cho kết quả tốt hơn so với phương pháp đo truyền
thống (sử dụng các 2 cảm biến) trong việc xác định được
điểm bắt đầu của vết nứt trong chi tiết thí nghiệm.
Lời cảm ơn: Nghiên cứu này được tài trợ bởi Quỹ Phát
triển Khoa học và Công nghệ Đại học Đà Nẵng trong đề tài
mã số B2018-ĐN02-38.
TÀI LIỆU THAM KHẢO
[1] https://vi.wikipedia.org/wiki/Ch%E1%BB%89_th%E1%BB%8B_
v%E1%BB%81_h%E1%BA%A1n_ch%E1%BA%BF_c%C3%A1
c_ch%E1%BA%A5t_nguy_hi%E1%BB%83m
[2] Zhang L., Xue S.B., Gao L.L., Zeng G, “Effects of rare earths on
properties and microstructures of lead-free solder alloys”, Journal of
Materials Science, vol. 20(8), 2009, pp. 685-694.
[3] Hammad A.E, “Evolution of microstructure, thermal and creep properties
of Ni-doped Sn–0.5Ag–0.7Cu low-Ag solder alloys for electronic
applications”, Materials and Design, vol. 52, 2013, pp. 663-670.
[4] Mahdavifard M.H., Sabri M.F.M., Shnawah D.A., Said S.M, “The
effect of iron and bismuth addition on the microstructural,
mechanical, and thermal properties of Sn–1Ag–0.5Cu solder alloy”,
Microelectronics Reliability, vol. 55(9–10), 2015, pp. 1886-1890.
[5] El-Daly A.A., Hammad A.E., Fawzy A., Nasrallh D. A,
“Microstructure, mechanical properties, and deformation behavior
4 Tào Quang Bảng, Bùi Hệ Thống
of Sn–1.0Ag–0.5Cu solder after Ni and Sb additions”, Materials and
Design, vol. 43, 2013, pp. 40-49.
[6] El-Daly A.A., El-Taher A.M, “Improved strength of Ni and Zn-doped
Sn–2.0Ag–0.5Cu lead-free solder alloys under controlled processing
parameters”, Materials and Design, vol. 47, 2013, pp. 607-614.
[7] Yu D.Q., Zhao J., Wang L, “Improvement on the microstructure
stability, mechanical and wetting properties of Sn–Ag–Cu lead-free
solder with the addition of rare earth elements”, Journal of Alloys
and Compound, vol. 376(1–2), 2004, pp. 170-175.
[8] Cheng F., Nishikawa H., Takemoto T, “Microstructural and
mechanical properties of Sn–Ag–Cu lead-free solders with minor
addition of Ni and/or Co”, Journal of Materials Science, vol. 43(10),
2008, pp. 3643-3648.
[9] Hammad A.E., “Investigation of microstructure and mechanical
properties of novel Sn–0.5Ag–0.7Cu solders containing small
amount of Ni”, Materials and Design, vol. 50, 2013, pp. 108-116.
[10] Q.B. Tao, L. Benabou, V.N. Le, H. Hwang, D.B. Luu, “Viscoplastic
characterization and post-rupture microanalysis of a novel lead-free
solder with small additions of Bi, Sb and Ni”, Journal of Alloys and
Compound, vol. 694, 2017, pp. 892-904.
[11] Sutton M.A., Wolters W.J., Peters W.H., Ranson W.F., McNeill S.R.,
“Determination of displacements using an improved digital correlation
method”, Image and Vision Computing, vol. 1, 1983, pp. 133–139.
[12] Peters W.H., Ranson W.F, “Digital imaging techniques in
experimental stress analysis”, Optical Engineering, vol. 21(3), 1982,
pp. 427–32.
[13] Chu T.C., Ranson W.F., Sutton M.A., Peters W.H, “Applications of
digital image correlation techniques to experimental mechanics”,
Experimental Mechanics, vol. 25,1985, pp. 232–244.
[14] Kammers A.D., Daly S, “Small-scale patterning methods for digital
image correlation under scanning electron microscopy”
Measurement Science and Technology, vol. 22, 2011, pp. 125-131.
[15] Zhang D., Arola D.D, “Applications of digital image correlation to
biological tissues”, Journal of Biomedical Optics, vol. 9, 2004, pp.
691–699.
[16] Rossi M., Broggiato G.B., Papalini S, “Application of digital image
correlation to the study of planar anisotropy of sheet metals at large
strains” Meccanica, vol. 43, 2008, pp. 185–199.
[17] Chevalier L., Calloch S., Hild F., Marco Y, “Digital image correlation
used to analyze the multiaxial behavior of rubber-like materials”
European Journal of Mechanics A/Solid, vol. 20, 2005, pp. 169–187.
[18] Wang L.L., Bornert M., Héripré E., Chanchole S., Tanguy A, “Full-
field measurements on low-strained geomaterials using environmental
scanning electron microscopy and digital image correlation: improved
imaging conditions”, Strain, vol. 50, 2014, pp. 370–380.
[19] Berfield T.A., Patel J.K., Shimmin R.G., Braun P.V., Lambros J.,
Sottos N.R, “Micro- and Nanoscale Deformation Measurement of
Surface and Internal Planes via Digital Image Correlation”,
Experimental Mechanics, vol. 45, 2007, pp. 51-62.
[20]
(BBT nhận bài: 27/9/2018, hoàn tất thủ tục phản biện: 19/10/2018)
Các file đính kèm theo tài liệu này:
- xac_dinh_truong_bien_dang_tren_toan_bo_chi_tiet_moi_han_bang.pdf